KOBRA-HB基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)/KOBRA-HBPR橢圓偏振/KOBRA-HBSPC分光全光譜OSI王子計測相位差橢圓偏振測量裝置玉崎科學(xué)儀器深圳有限公司 現(xiàn)貨

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KOBRA-HB（基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)）KOBRA-HBPR（橢圓偏振）KOBRA-HBSPC（分光全光譜）

相位差/橢圓偏振測量裝置 KOBRA-HB系列

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■特點

測量方法：
平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法、
旋轉(zhuǎn)偏振器法、
平行尼科爾光譜法

測量波長：
450、500、550、590、630、680nm
，400-800nm（光譜范圍）

垂直入射測量的樣品尺寸
：30mm 正方形或更大。
入射角依賴性：30mm 至 40x50mm，t3 或更小。

測量區(qū)域
33mm2（5.8mm 正方形：感光細(xì)胞區(qū)域）
φ0.8mm（光譜）

Oji Keisoku（OSI 王子計測）KOBRA-HB 系列 相位差 / 橢圓偏振測量裝置 產(chǎn)品介紹

KOBRA-HB 是王子計測新一代寬量程、高精度、緊湊型光學(xué)雙折射 / 位相差 / 橢圓偏振測量儀，主打2nm~20000nm 全量程覆蓋，兼容常規(guī)位相差、橢圓偏振、分光色散三大測量模式，專為光學(xué)薄膜、偏光板、液晶、半導(dǎo)體、高分子材料的研發(fā)與產(chǎn)線質(zhì)控設(shè)計，是 KOBRA-W 系列的全面升級款。

一、核心測量原理（三合一技術(shù)）

采用王子計測偏振光學(xué)方案，一機實現(xiàn)三種高精度測量：

平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法（標(biāo)準(zhǔn)模式）：高速測量面內(nèi)位相差 (Re)、方位角 (φ)、雙折射 (Δn)，適合大面積 mapping、快速抽檢

旋轉(zhuǎn)偏振器法（橢圓偏振模式，HBPR）：一次旋轉(zhuǎn)獲取橢圓率 ψ、相位差 Δ，計算薄膜厚度、折射率、消光系數(shù)，適配半導(dǎo)體 / 光學(xué)鍍膜

平行尼科爾光譜法（分光模式，HBSPC）：400~800nm 連續(xù)光譜，測波長色散特性 (Re-λ)，分析多層膜、液晶、光學(xué)膜的色散行為

二、核心型號與配置（三大主力機型）

型號

KOBRA-HB（基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)）

KOBRA-HBPR（橢圓偏振）

KOBRA-HBSPC（分光全光譜）

核心功能 ? ?位相差、方位角、雙折射 ? ?位相差 + 橢圓偏振 (ψ/Δ)、膜厚 / 折射率 ? ?位相差 + 全光譜色散 (400-800nm) ? ?

測量波長 ? ?450/500/550/590/630/680nm（6 波段 LED） ? ?同標(biāo)準(zhǔn) 6 波段 ? ?400~800nm 連續(xù)分光 ? ?

測量光斑 ? ?5.8mm 角（33mm2） ? ?5.8mm 角 ? ?φ0.8mm（微區(qū)點測） ? ?

樣品臺 ? ?固定垂直入射 ? ?傾斜旋轉(zhuǎn)臺（0~60° 斜入射） ? ?傾斜旋轉(zhuǎn)臺 + 分光光路 ? ?

適用場景 ? ?常規(guī)光學(xué)膜、偏光板、拉伸膜、內(nèi)應(yīng)力檢測 ? ?半導(dǎo)體薄膜、光學(xué)涂層、液晶盒、多層膜 ? ?波長色散、微區(qū)、薄膜、復(fù)雜光學(xué)材料 ? ?

三、核心技術(shù)參數(shù)（高精度指標(biāo)）

位相差量程：2nm 以下～20000nm（全量程無盲區(qū)，覆蓋薄到厚樣品）

位相差分辨率：0.001nm；重復(fù)性（3σ）：≤0.03nm（150nm 標(biāo)準(zhǔn)片，590nm）

方位角分辨率：0.001°；重復(fù)性（3σ）：≤0.005°（取向角高精度）

光源：長壽命 LED（壽命 > 20,000 小時），免維護、無需換燈，穩(wěn)定性遠傳統(tǒng)鹵素 / 汞燈

樣品尺寸：* 100×100mm，厚度≤3mm；大開口設(shè)計，可直接放入偏光板、大片薄膜

設(shè)備尺寸：W300×D700×H500mm（比 KOBRA-W 體積縮小 40%，節(jié)省空間）

測量速度：單點測量 < 1 秒；mapping 模式高速掃描

四、核心優(yōu)勢（對比 KOBRA-W 系列）

寬量程突破：從低 Re (2nm 以下) 到高 Re (20000nm)，一臺覆蓋所有雙折射樣品，無需多臺設(shè)備切換

精度與穩(wěn)定：方位角 / 位相差分辨率提升，長期漂移極小，適合量產(chǎn)線 24h 連續(xù)質(zhì)控

免維護 LED 光源：壽命 > 2 萬小時，無耗材、無預(yù)熱、開機即測，運維成本大幅降低

緊湊型大開口：體積更小、樣品開口更大，兼容大片 / 厚片，實驗室 / 產(chǎn)線都適配

三合一多功能：標(biāo)準(zhǔn) / 橢圓偏振 / 分光三種模式，滿足從基礎(chǔ)檢測到研發(fā)的全需求

軟件與自動化：分析軟件，自動計算 Re/φ/Δn/ψ/Δ、生成 mapping 圖、色散曲線、數(shù)據(jù)導(dǎo)出；支持自動進樣器選配

五、適用樣品與典型應(yīng)用

適用樣品

光學(xué)薄膜：PET/PI/COP/LCP/PC、相位差膜、偏光板、補償膜、拉伸膜

顯示 / 液晶：液晶盒、TFT、OLED 光學(xué)層、偏光組件

半導(dǎo)體 / 鍍膜：介電薄膜、光學(xué)涂層、光刻膠、多層膜

高分子 / 玻璃：塑料片、玻璃內(nèi)應(yīng)力、纖維、復(fù)合材料、透明板材

典型應(yīng)用

光學(xué)膜研發(fā)：拉伸工藝優(yōu)化、取向均勻性評估、雙折射 / 位相差控制、熱收縮分析

顯示面板質(zhì)控：偏光板 / 液晶盒位相差、旋光角、斜入射特性檢測

半導(dǎo)體 / 鍍膜：薄膜厚度、折射率、消光系數(shù)、多層膜結(jié)構(gòu)解析

材料失效分析：內(nèi)應(yīng)力、雙折射異常、取向缺陷排查

六、系統(tǒng)構(gòu)成與選配

標(biāo)準(zhǔn)配置：主機（LED 光源 + 偏振光學(xué)系統(tǒng) + 旋轉(zhuǎn)臺）、分析軟件、標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片、樣品夾具

核心選配：

自動進樣器（批量樣品連續(xù)測量，20~50 片）

傾斜旋轉(zhuǎn)臺（0~60° 斜入射，測角度依存性）

微區(qū)光斑模塊（φ0.8mm，局部點測）

高溫樣品臺（室溫～150℃，高溫下雙折射測量）

數(shù)據(jù)導(dǎo)出 / PLC 對接 / 產(chǎn)線監(jiān)控模塊

七、與王子計測生態(tài)聯(lián)動

可與MOA-8000 分子取向分析儀（微波法，測不透明 / 厚樣）?組合，構(gòu)建光學(xué) + 微波雙方法全維度雙折射 / 取向分析方案，覆蓋透明 / 不透明、薄 / 厚所有片狀材料。

八、采購渠道

歡迎廣大行業(yè)客戶、合作伙伴垂詢與洽談合作：

玉崎科學(xué)儀器（深圳）有限公司

專項負(fù)責(zé)人：1??1??????? ?（林）

地址：廣東省深圳市龍華新區(qū)龍華街道906號電商集團7樓整層玉崎科學(xué)

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